Medda ta' Wavelength | : | 190-1100nm |
Faxxa tal-Banda Spettrali | : | 2nm (5nm, 4nm, 1nm, 0,5nm mhux obbligatorju) |
Preċiżjoni tal-Wavelength | : | ± 0.3nm |
Riproduċibbiltà tat-tul tal-mewġ | : | ≤0.15nm |
Sistema Fotometrika | : | Raġġ doppju, auto scan, ditekters doppji |
Preċiżjoni Fotometrika | : | ±0.3τ (0~100τ) ± 0.002A (0~0.5A) ± 0.004A (0.5 ~ 1A) |
Riproduċibilità Fotometrika | : | ≤0.15% τ |
Modalità tax-Xogħol | : | T, A, C, E |
Medda Fotometrika | : | -0.3-3.5A |
Dawl Stray | : | ≤0.05%τ (Nal, 220nm, NaNO2 360nm) |
Flatness tal-linja bażi | : | ± 0.002A |
Stabbiltà | : | ≤0.001A/h (f'500nm, wara li tisħon) |
Storbju | : | ± 0.001A (f'500nm, wara li tisħon) |
Wiri | : | 6 pulzieri għolja dawl blu LCD |
Ditekter | : | Dajowd tar-ritratti tas-silikon |
Qawwa | : | AC 220V/50Hz, 110V/60Hz 180W |
Dimensjonijiet | : | 630×470×210mm |
Piż | : | 26kg |
Medda ta' Wavelength | : | 190-1100nm |
Faxxa tal-Banda Spettrali | : | 2nm (5nm, 4nm, 1nm, 0,5nm mhux obbligatorju) |
Preċiżjoni tal-Wavelength | : | ± 0.3nm |
Riproduċibbiltà tat-tul tal-mewġ | : | 0.15nm |
Sistema Fotometrika | : | Monitoraġġ tal-proporzjon tar-raġġ maqsum, skan awtomatiku, ditekters doppji |
Preċiżjoni Fotometrika | : | ±0.3τ (0~100τ) ± 0.002A (0~0.5A) ± 0.004A (0.5 ~ 1A) |
Riproduċibilità Fotometrika | : | 0.2%τ |
Modalità tax-Xogħol | : | T, A, C, E |
Medda Fotometrika | : | -0.3-3A |
Dawl Stray | : | ≤0.05%τ (Nal, 220nm, NaNO2 360nm) |
Flatness tal-linja bażi | : | ± 0.002A |
Stabbiltà | : | ≤0.001A/30min (f'500nm, wara li tisħon) |
Storbju | : | ± 0.001A (f'500nm, wara li tisħon) |
Wiri | : | 6 pulzieri għolja dawl blu LCD |
Ditekter | : | Dajowd tar-ritratti tas-silikon |
Qawwa | : | AC 220V/50Hz, 110V/60Hz 180W |
Dimensjonijiet | : | 630×470×210mm |
Piż | : | 26kg |
Medda ta' Wavelength | : | 190-1100nm |
Faxxa tal-Banda Spettrali | : | 2nm (5nm, 1nm, mhux obbligatorju) |
Preċiżjoni tal-Wavelength | : | ± 0.3nm |
Riproduċibbiltà tat-tul tal-mewġ | : | 0.2nm |
Sistema Fotometrika | : | Raġġ wieħed, ħakk pjan ta '1200L/mm |
Preċiżjoni Fotometrika | : | ±0.3τ (0~100τ) ± 0.002A (0~0.5A) ± 0.004A (0.5 ~ 1A) |
Riproduċibilità Fotometrika | : | ≤0.15% τ |
Modalità tax-Xogħol | : | T, A(-0.3-3A), Ċ, E |
Medda Fotometrika | : | -0.3-3A |
Dawl Stray | : | ≤0.05%τ (Nal, 220nm, NaNO2 360nm) |
Flatness tal-linja bażi | : | ± 0.002A |
Stabbiltà | : | ≤0.001A/30min (f'500nm, wara li tisħon) |
Storbju | : | ± 0.001A (f'500nm, wara li tisħon) |
Wiri | : | 6 pulzieri għolja dawl blu LCD |
Ditekter | : | Dajowd tar-ritratti tas-silikon |
Qawwa | : | AC 220V/50Hz, 110V/60Hz 140W |
Dimensjonijiet | : | 530×410×210mm |
Piż | : | 18kg |
Medda ta' Wavelength | : | 320-1100nm |
Faxxa tal-Banda Spettrali | : | 2nm (5nm, 1nm, mhux obbligatorju) |
Preċiżjoni tal-Wavelength | : | ± 0.5nm |
Riproduċibbiltà tat-tul tal-mewġ | : | 0.2nm |
Sistema Fotometrika | : | Raġġ wieħed, ħakk pjan ta '1200L/mm |
Preċiżjoni Fotometrika | : | ±0.3τ (0~100τ) ± 0.002A (0~0.5A) ± 0.004A (0.5 ~ 1A) |
Riproduċibilità Fotometrika | : | ≤0.15% τ |
Modalità tax-Xogħol | : | T, A, C, E |
Medda Fotometrika | : | -0.3-3A |
Dawl Stray | : | ≤0.05%τ (Nal, 220nm, NaNO2 360nm) |
Flatness tal-linja bażi | : | ± 0.002A |
Stabbiltà | : | ≤0.001A/30min (f'500nm, wara li tisħon) |
Sors tad-Dawl | : | Fanal aloġenu tat-tungstenu |
Wiri | : | 6 pulzieri għolja dawl blu LCD |
Ditekter | : | Dajowd tar-ritratti tas-silikon |
Qawwa | : | AC 220V/50Hz, 110V/60Hz 140W |
Dimensjonijiet | : | 530×410×210mm |
Piż | : | 18kg |